Ellipsometric in situ measurements during deposition of amorphous CuxSn100-x films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 192889 |
| Erscheinungsvermerk | Z. f. Phys. B 77 (1989) S. 33-39. |