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Ellipsometric in situ measurements during deposition of amorphous CuxSn100-x films

Bohn, Johannes; Baumann, Friedhold



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 192889
Erscheinungsvermerk Z. f. Phys. B 77 (1989) S. 33-39.
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