Dynamic method for in situ measurement of the thermoelectric power of vapor quenched thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 192989 |
| Erscheinungsvermerk | Rev. of sci. instrum. 60 (1989) S. 2715-2719. |