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Dynamic method for in situ measurement of the thermoelectric power of vapor quenched thin films

Compans, Elmar



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 192989
Erscheinungsvermerk Rev. of sci. instrum. 60 (1989) S. 2715-2719.
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