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A flexible diagnosis system for the testing of networked microsystems

Kranz, Michael; Bergmann, Jochen; Bender, Klaus



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 194894
Erscheinungsvermerk In: Micro-system technologies 94. Ed.: H. Reichl. Berlin 1994. S. 813-822.
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