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A flexible diagnosis system for the testing of networked microsystems

Kranz, Michael; Bergmann, Jochen; Bender, Klaus


Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 194894
Erscheinungsvermerk In: Micro-system technologies 94. Ed.: H. Reichl. Berlin 1994. S. 813-822.
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