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Shearograms with variable measurement sensitivity

Klumpp, Peter Anton; Schnack, Eckart


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Mechanik (ITM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1990
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 194990
Erscheinungsvermerk Exper. tech. 14 (1990) Nr. 4 S. 42-44.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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