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Gate-delay fault test with conventional scan design

Kunzmann, Arno; Böhland, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 195094
Erscheinungsvermerk In: European Test Conference, Paris 1994.
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