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Gate-delay fault test with conventional scan design

Kunzmann, Arno; Böhland, Frank


Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1994
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 195094
Erscheinungsvermerk In: European Test Conference, Paris 1994.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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