KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Test pattern generation motivated by pseudo-exhaustive test techniques

Kunzmann, Arno



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 195294
Erscheinungsvermerk In: EURO-DAC 94, Grenoble 1994.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page