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Copper corrosion - characterising surfaces by using high resolution light microscopy

Merkel, Till; Sieckmann, Frank



Zugehörige Institution(en) am KIT DVGW - Technologiezentrum Wasser (TZW)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2001
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 19812001
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. IWA 2nd World Water Congress, Berlin 2001 und in: Proceedings. AWWA Water Quality and Technology Conference, Nashville, TE 2001.
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