A seismic refraction study of the crustal structure of the South Kenya rift

Henry, W.; Mechie, James; Maquire, P. K. H.; Patel, J.; Keller, G. R.; Prodehl, Claus; Khan, M. A.

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seit 10.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Geophysikalisches Institut (GPI)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	1990
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 198790
Erscheinungsvermerk	In: Properties and processes of earth's lower crust. Ed.: R.F. Mereu. Washington, DC 1989. S. 169-172. (Geophysical monograph series. 51.) (IUGG series. 6.)