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Aufladungskorrektur und Oberflaechencharakterisierung von Polymerschichten mittels Roentgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS)

Schuehler, N.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Radiochemie (IRCH)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 1990
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 200029846
HGF-Programm 16.03.02 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk Diplomarbeit, Universitaet Karlsruhe 1990
Art der Arbeit Abschlussarbeit - Diplom
Prüfungsdaten 01.01.1990
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