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A methodology for the insertion of a hierarchical and boundary-scan compatible self test

Haberl, Oliver; Kropf, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 205392
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 10th IEEE VLSI Test Symposium, Atlantic City 1992. S. 37-42.
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