A methodology for the insertion of a hierarchical and boundary-scan compatible self test
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 205392 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 10th IEEE VLSI Test Symposium, Atlantic City 1992. S. 37-42. |