HIST: a methodology for the automatic insertion of a hierarchical self test
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 205492 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. International Test Conference, Baltimore 1992. Piscataway, NJ 1992. S. 732-741. |