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HIST: a methodology for the automatic insertion of a hierarchical self test

Haberl, Oliver; Kropf, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 205492
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. International Test Conference, Baltimore 1992. Piscataway, NJ 1992. S. 732-741.
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