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Test structure for the detection, localization and identification of short circuits with a high speed digital tester

Hess, Christopher; Weiland, Larg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 205592
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS '92), San Diego 1992. New York, NY 1992. S. 139-144.
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