Test structure for the detection, localization and identification of short circuits with a high speed digital tester
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 205592 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS '92), San Diego 1992. New York, NY 1992. S. 139-144. |