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Two-dimensional detectors for X-ray stress analysis on polycrystalline materials

Kaempfe, Andreas; Kaempfe, Bernd; Goldenbogen, S.; Eigenmann, Bernd; Macherauch, Eckard; Loehe, Detlef


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 205599
Erscheinungsvermerk In: Materials mechanics - fracture mechanics - micromechanics. Ed.: A. Schubert. Berlin : FhG IZM 1999. S. 656-666.
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