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Messung von Diffusionskoeffizienten in Kristallzuechtungsschmelzen von Halbleiterverbindungen nach dem Scherzellenverfahren

Koessler, Robert


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Kristall- und Materiallabor (KML)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 1990
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 20590
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Erscheinungsvermerk Fak. f. Physik, Diss. v. 15.6.1990.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Fakultät für Physik – Kristall- und Materiallabor (KML)
Prüfungsdaten Diss. v. 15.6.1990
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