Reducing BIST hardware by test schedule optimization
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 206192 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 1st Asian Test Symposium, Hiroshima, Japan 1992. S. 253-258. |