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Reducing BIST hardware by test schedule optimization

Stroele, Albrecht



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 206192
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 1st Asian Test Symposium, Hiroshima, Japan 1992. S. 253-258.
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