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Surface transfer impedance of shielding enclosure

Bernauer, Jürgen; Schwab, Adolf J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Deutsch-Französisches Institut für Automation und Robotik - Teilinstitut Karlsruhe (IAR -Teilinst. KA)
Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1995
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 207695
Erscheinungsvermerk In: Atlanta 1995. EMC - a global concern. IEEE 1995 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Atlanta 1995. Piscataway, NJ 1995. S. 387-391.
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