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The OSEK/VDX standard for automotive applications - current status

Kiencke, Uwe; Thierer, Carsten



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 20942000
Erscheinungsvermerk In: SAE 2000 World Congress, Detroit, Mich. 2000. S. 1-7. (SAE technical paper series. 2000-01-0385.)
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