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Standards of open-ended architecture: the strength of the OSEK/VDX approach

Kriesten, Reiner; Thierer, Carsten



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 21262000
Erscheinungsvermerk In: Reports on industrial technology. Vol. 3. Ed.: U. Kiencke. Egelsbach 2000. S. 103-115. (Deutsche Hochschulschriften. 2739.)
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