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FPGA based self-test with deterministic test patterns

Kunzmann, Arno


Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 213193
Erscheinungsvermerk In: Field-programmable gate arrays. Ed.: H. Gruenbacher. Berlin 1993. S. 174-182. (Lecture notes in computer science. 705.)
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