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Transfer impedance measurement of a 19"-subrack

Bernauer, Jürgen; Schwab, Adolf J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1996
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 216396
Erscheinungsvermerk In: EMC - silicon to systems, Silicon Valley, 1996. IEEE 1996 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Santa Clara, Calif. Piscataway, NJ 1996. S. 360-365.
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