Transfer impedance measurement of a 19"-subrack
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 216396 |
| Erscheinungsvermerk | In: EMC - silicon to systems, Silicon Valley, 1996. IEEE 1996 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Santa Clara, Calif. Piscataway, NJ 1996. S. 360-365. |