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Modellierung dünner leitfähiger Schirmwände im Zeitbereich mit dem TLM-Verfahren

Fuchs, Christoph; Kopp, Gerhard; Schwab, Adolf J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1996
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 216696
Erscheinungsvermerk In: Elektromagnetische Verträglichkeit. EMV '96. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1996. S. 277-284.
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