Modellierung dünner leitfähiger Schirmwände im Zeitbereich mit dem TLM-Verfahren
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 216696 |
| Erscheinungsvermerk | In: Elektromagnetische Verträglichkeit. EMV '96. Hrsg.: H.R. Schmeer. Berlin 1996. S. 277-284. |