KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Seamless testing of embedded control systems

Sax, Eric; Willibald, Jens; Mueller-Glaser, Klaus D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 21762002
Erscheinungsvermerk In: Digest of papers. 3rd IEEE Latin American Test Workshop, Montevideo, Uruguay 2002. S. 151-153.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page