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Simulating the detection process of AFM-cantilevers using true displacement distributions under loading

Mueller, M.; Schimmel, Th.; Haeussler, Pascal; Mueller, Ottmar; Fettig, H.; Albers, Albert



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Maschinenkonstruktionslehre und Kraftfahrzeugbau (Inst. f. Masch.-Konstr.-Lehre u. Kraftfahrzeugbau)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 21872000
Erschienen in 4th International Conference on the Development and Technological Application of Scanning Probe Method, 25.-27. September, 2000, Münster, Germany
Verlag Münster
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