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AFM nanostructured devices - production and properties

Koch, Th.; Gehm, N.; Xie, F.Q.; Zhong, S.; Mechau, N.; Hahn, H.; Schimmel, Th.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220068797
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Nanoscale Phenomena : Fundamentals and Applications, Kishinev, MD, September 20-22, 2007
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