Residual stress in Ni-Mn-Ga thin films deposited on different substrates

Doyle, S.; Chernenko, V. A.; Besseghini, S.; Gambardella, A.; Kohl, M.; Mullner, P.; Ohtsuka, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2007
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220070319
HGF-Programm	43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk	Materials Research Society Fall Meeting, Boston, Mass., October 26-30, 2007 On-line Journal E13