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Fine structure in the tunneling characteristic of MgB₂ thin films

Schneider, R.; Geerk, J.; Zaitsev, A.; Löhneysen, H. von


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220071117
HGF-Programm 52.01.01 (POF I, LK 01) Elektr.Eigenschaften.Magnetismus u.SL
Erscheinungsvermerk 72.Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft und DPG Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik, Fachverband Tiefe Temperaturen, Berlin, 25.-29.Februar 2008 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.43(2008) TT 15.42
Externe Relationen Abstract/Volltext
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