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Chemical patterning and chemical contrast imaging with the Tip of an atomic force microscope

Walheim, S.; Barczewski, M.; Gröger, R.; Riedel, B.; Pfrang, A.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220071869
HGF-Programm 43.03.06; LK 01
Erscheinungsvermerk 1st Internat.Conf.from Nanoparticles and Nanomaterials to Nanodevices and Nanosystems (IC4N 2008), Neos Marmaras, GR, June 16-18, 2008
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