Chemical patterning and chemical contrast imaging with the Tip of an atomic force microscope
Walheim, S.; Barczewski, M.
; Gröger, R.; Riedel, B.; Pfrang, A.; Schimmel, T.
; Gröger, R.; Riedel, B.; Pfrang, A.; Schimmel, T.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220071869 |
| HGF-Programm | 43.03.06 (POF I, LK 01) Konstitution, Synthese u.Processing |
| Erscheinungsvermerk | 1st Internat.Conf.from Nanoparticles and Nanomaterials to Nanodevices and Nanosystems (IC4N 2008), Neos Marmaras, GR, June 16-18, 2008 |