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Large scale - high resolution nanoanalysis and nanostructuring with AFM

Koch, T.; Gehm, N.; Förste, A.; Walheim, S.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220071873
HGF-Programm 43.01.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 1st Internat.Conf.from Nanoparticles and Nanomaterials to Nanodevices and Nanosystems (IC4N 2008), Neos Marmaras, GR, June 16-18, 2008
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