Large scale - high resolution nanoanalysis and nanostructuring with AFM

Koch, T.; Gehm, N.; Förste, A.; Walheim, S.; Schimmel, T.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2008
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220071873
HGF-Programm	43.01.02 (POF I, LK 01) Strukturierung
Erscheinungsvermerk	1st Internat.Conf.from Nanoparticles and Nanomaterials to Nanodevices and Nanosystems (IC4N 2008), Neos Marmaras, GR, June 16-18, 2008