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FIB preparation methods for 3D material investigation, nanoindentation and TEM

Exner, D.; Jäntsch, U.; Scherer, T.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220072262
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk FIB Workshop, Luzern, CH, 3.-4.Juli 2008
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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