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Energy and time resolved microscopy with PEEM: comparison of two approaches

Merkel, M.; Weber, N.; Escher, M.; Oelsner, A.; Schönhense, G.; Nagel, P.; Schuppler, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220072900
HGF-Programm 52.01.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 6th Internat.Workshop on LEEM-PEEM, Trieste, I, September 7-11, 2008
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