Energy and time resolved microscopy with PEEM: comparison of two approaches

Merkel, M.; Weber, N.; Escher, M.; Oelsner, A.; Schönhense, G.; Nagel, P.; Schuppler, S.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2008
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220072900
HGF-Programm	52.01.01 (POF I, LK 01) Elektr.Eigenschaften.Magnetismus u.SL
Erscheinungsvermerk	6th Internat.Workshop on LEEM-PEEM, Trieste, I, September 7-11, 2008