In-situ TEM and STM studies of dislocations in nano-scale metal samples

Roos, B.; Schmidt, S.; Gianola, D. S.; Richter, G.; Pundt, A.; Volkert, C. A.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220075125
HGF-Programm	43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk	Frühjahrstagung DPG, Fachverband Metall- und Materialphysik, Dresden, 22.-27.März 2009 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.44(2009) MM 35.22
Externe Relationen	Abstract/Volltext