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Non-contact atomic force spectroscopy using field ion microscope characterized tips

Falter, J.; Braun, D.A.; Schwarz, U.; Hölscher, H.; Schirmeisen, A.; Fuchs, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220075135
HGF-Programm 43.03.09 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Fachverband Oberflächenphysik, Dresden, 22.-27.März 2009 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.44(2009) O 27.13
Externe Relationen Abstract/Volltext
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