Non-contact atomic force spectroscopy using field ion microscope characterized tips
Falter, J.; Braun, D. A.; Schwarz, U.; Hölscher, H.
; Schirmeisen, A.; Fuchs, H.
; Schirmeisen, A.; Fuchs, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220075135 |
| HGF-Programm | 43.03.09 (POF II, LK 01) Mechanische Eigenschaften |
| Erscheinungsvermerk | Frühjahrstagung DPG, Fachverband Oberflächenphysik, Dresden, 22.-27.März 2009 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.44(2009) O 27.13 |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |