XPS characterization of thiol-SAMs on Au surfaces for biological applications

Trouillet, V.; Engin, S.; Wedlich, D.; White, R. G.; Mack, P.; Bruns, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220077012
HGF-Programm	43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk	American Vacuum Society 56th Internat.Symp.and Exhibition, San Jose, Calif., November 8-13, 2009