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XPS characterization of thiol-SAMs on Au surfaces for biological applications

Trouillet, V.; Engin, S.; Wedlich, D.; White, R.G.; Mack, P.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Poster
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220077012
HGF-Programm 43.01.05 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk American Vacuum Society 56th Internat.Symp.and Exhibition, San Jose, Calif., November 8-13, 2009
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