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Origin of a new pre-edge feature at the sulphur K edge in silicate glasses

Stelling, J.; Behrens, H.; Wilke, M.; Susini, J.; Chalmin, E.; Göttlicher, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220078204
HGF-Programm 55.51.20 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk 20th Internat.Congress on X-ray Optics and Microanalysis (ICXOM 20), Karlsruhe, September 14-18, 2009
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