X-ray diffraction and X-ray fluorescence tomography at the SUL-X beamline: First approach and perspectives

Göttlicher, J.; Santos Rolo, T. dos; Steininger, R.; Meirer, F.; Nehrke, G.; Spangenberg, T.

Seitenaufrufe: 14
seit 11.03.2019

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220078211
HGF-Programm	55.51.20 (POF II, LK 02) Infrastr.u.Betrieb ANKA-Beschleunigeranl
Erscheinungsvermerk	20th Internat.Congress on X-ray Optics and Microanalysis (ICXOM 20), Karlsruhe, September 14-18, 2009