KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

X-ray diffraction and X-ray fluorescence tomography at the SUL-X beamline: First approach and perspectives

Göttlicher, J.; dos Santos Rolo, T.; Steininger, R.; Meirer, F.; Nehrke, G.; Spangenberg, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Poster
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220078211
HGF-Programm 55.51.20 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk 20th Internat.Congress on X-ray Optics and Microanalysis (ICXOM 20), Karlsruhe, September 14-18, 2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page