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Charakterisierung von Zyklonmikromischern mit optischen Verfahren

Rinke, G.; Ewinger, A.; Kerschbaum, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 220078393
HGF-Programm 43.01.07 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Jahrestreffen Reaktionstechnik, Würzburg, 10.-12.Mai 2010
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