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Test arrangement for the W7-X HTS-current lead prototype testing

Fietz, W.H.; Fink, S.; Heiduk, M.; Heller, R.; Lange, C.; Lietzow, R.; Möhring, T.; Rohr, P.; Süßer, M.; Rummel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Poster
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220078717
HGF-Programm 31.20.70; LK 01
Erscheinungsvermerk Applied Superconductivity Conf., Washington, D.C., August 1-6, 2010
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