Test arrangement for the W7-X HTS-current lead prototype testing

Fietz, W. H.; Fink, S.; Heiduk, M.; Heller, R.; Lange, C.; Lietzow, R.; Möhring, T.; Rohr, P.; Süßer, M.; Rummel, T.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220078717
HGF-Programm	31.20.70 (POF II, LK 01) MRS-Technik für ECRH an W7-X, Spulentest
Erscheinungsvermerk	Applied Superconductivity Conf., Washington, D.C., August 1-6, 2010