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Probing the mechanical properties of metal wires at small scale by microscopy

Scherer, T.; Zhong, S.; Wang, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220078880
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk Microscopy and Microanalysis 2010 Meeting, Portland, Oreg., August 1-5, 2010
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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