Probing the mechanical properties of metal wires at small scale by microscopy
Scherer, T.; Zhong, S.; Wang, D.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220078880 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erscheinungsvermerk | Microscopy and Microanalysis 2010 Meeting, Portland, Oreg., August 1-5, 2010 |