A new approach for in-situ TEM straining investigations of nanocrystalline Pd and PdAu using orientation mapping
Weis, A.; Castrup, A.; Kübel, C.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220079885 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | Facets of Electron Crystallography, Workshop, Berlin, July 7-9, 2010 |