X-ray talbot interferometry at ESRF: applications and recent technical developments

Weitkamp, T.; Zanette, I.; Lang, S.; Schulz, G.; Deyhle, H.; Müller, B.; Bech, M.; Tapfer, A.; Pfeiffer, E.; Reznikova, E.; Kennter, J.; Mohr, J.; Rutishauser, S.; Donath, T.; David, C.

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Weitkamp, T.; Zanette, I.; Lang, S.; Schulz, G.; Deyhle, H.; Müller, B.; Bech, M.; Tapfer, A.; Pfeiffer, E.; Reznikova, E.; Kennter, J.; Mohr, J.; Rutishauser, S.; Donath, T.; David, C.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220080286
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	10th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy (XRM2010), Chicago, Ill., August 15-20, 2010

Repository KITopen

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