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X-ray talbot interferometry at ESRF: applications and recent technical developments

Weitkamp, T.; Zanette, I.; Lang, S.; Schulz, G.; Deyhle, H.; Müller, B.; Bech, M.; Tapfer, A.; Pfeiffer, E.; Reznikova, E.; Kennter, J.; Mohr, J.; Rutishauser, S.; Donath, T.; David, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220080286
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 10th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy (XRM2010), Chicago, Ill., August 15-20, 2010
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