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3ω measurements of thermal conductivity in oxide thin films

Wiedigen, S.; Feuchter, M.; Jooss, C.; Kamlah, M. ORCID iD icon


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Poster
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220080395
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Fachverband Dünne Schichten, Regensburg, 21.-26.März 2010 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.45(2010) DS 9.46
Externe Relationen Abstract/Volltext
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