Atomic force microscopy meets field ion microscopy
Falter, J.; Braun, D. A.; Schwarz, U. D.; Hölscher, H.
; Schirmeisen, A.; Fuchs, H.
; Schirmeisen, A.; Fuchs, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220080426 |
| HGF-Programm | 43.03.09 (POF II, LK 01) Mechanische Eigenschaften |
| Erscheinungsvermerk | Frühjahrstagung DPG, Fachverband Oberflächenphysik, Regensburg, 21.-26.März 2010 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.45(2010) O 60.11 |