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Atomic force microscopy meets field ion microscopy

Falter, J.; Braun, D.A.; Schwarz, U.D.; Hölscher, H.; Schirmeisen, A.; Fuchs, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220080426
HGF-Programm 43.03.09; LK 01
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Fachverband Oberflächenphysik, Regensburg, 21.-26.März 2010 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.45(2010) O 60.11
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