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Kamerabasierte Messverfahren zur Bestimmung neuartiger Prozesskenngrößen bei thermischen Prozessen

Waibel, P.; Matthes, J.; Seifert, R.; Keller, H.B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Poster
Jahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 220080638
HGF-Programm 34.02.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Tag der Offenen Tür, KIT, Karlsruhe, 25.September 2010
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