Kamerabasierte Messverfahren zur Bestimmung neuartiger Prozesskenngrößen bei thermischen Prozessen

Waibel, P.; Matthes, J.; Seifert, R.; Keller, H. B.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2010
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 220080638
HGF-Programm	34.02.02 (POF II, LK 01) Simulation und Messtechnik
Erscheinungsvermerk	Tag der Offenen Tür, KIT, Karlsruhe, 25.September 2010

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