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A new approach for in-situ TEM straining investigations of nanocrystalline Pd and PdAu using orientation mapping

Weis, A.; Castrup, A.; Kübel, C.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/220080849
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220080849
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Workshop Facets of Electron Crystallography, Berlin, July 7-9, 2010
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