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Statistics of voltage fluctuations in resistively shunted Josephson junctions

Golubev, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220082162
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Internat.Symp.on Nanoscale Transport and Technology (ISNTT 2011), Kanagawa, J, January 11-14, 2011
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