Statistics of voltage fluctuations in resistively shunted Josephson junctions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220082162 |
| HGF-Programm | 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures |
| Erscheinungsvermerk | Internat.Symp.on Nanoscale Transport and Technology (ISNTT 2011), Kanagawa, J, January 11-14, 2011 |