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Quantitative electron tomography of nanoparticles in Zn-doped GaAs semiconductors

Kübel, C.; Dieker, Ch.; Jäger, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220082236
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk European Materials Research Society Spring Meeting, Nice, F, May 9-13, 2011
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