Quantitative electron tomography of nanoparticles in Zn-doped GaAs semiconductors
Kübel, C.
; Dieker, Ch.; Jäger, W.
; Dieker, Ch.; Jäger, W.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220082236 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erscheinungsvermerk | European Materials Research Society Spring Meeting, Nice, F, May 9-13, 2011 |