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AFM characterization of graphene

Malik, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220082372
HGF-Programm 43.11.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 2nd Internat.Workshop on Advanced Atomic Force Microscopy Techniques, KIT, Karlsruhe, February 28 - March 1, 2011
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