A novel fatigue testing method for metallic thin films on Si cantilever substrates

Burger, S.; Eberl, C.; Siegel, A.; Ludwig, A.; Kraft, O.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220082536
HGF-Programm	43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erscheinungsvermerk	10.Tagung Gefüge und Bruch, Bochum, 30.März - 1.April 2011