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A novel fatigue testing method for metallic thin films on Si cantilever substrates

Burger, S.; Eberl, C.; Siegel, A.; Ludwig, A.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220082536
HGF-Programm 43.12.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 10.Tagung Gefüge und Bruch, Bochum, 30.März - 1.April 2011
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