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XPS-characterisation of surface functionalised materials via (Hetero) Diels-Alder chemistry

Trouillet, V.; Barner-Kowollik, C.; Barner, L.; Blinco, J.; Gerstel, P.; Gliemann, H.; Goldmann, A.S.; Hübner, C.; Tischer, T.; Zydziak, N.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220083991
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk 14th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11), Cardiff, GB, September 4-9, 2011
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