XPS-characterisation of surface functionalised materials via (Hetero) Diels-Alder chemistry

Trouillet, V.; Barner-Kowollik, C.; Barner, L.; Blinco, J.; Gerstel, P.; Gliemann, H.; Goldmann, A. S.; Hübner, C.; Tischer, T.; Zydziak, N.; Bruns, M.

XPS-characterisation of surface functionalised materials via (Hetero) Diels-Alder chemistry

Trouillet, V.; Barner-Kowollik, C.; Barner, L.; Blinco, J.; Gerstel, P.; Gliemann, H.; Goldmann, A. S.; Hübner, C.; Tischer, T.; Zydziak, N.; Bruns, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT) Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 220083991
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	14th European Conf.on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'11), Cardiff, GB, September 4-9, 2011

Repository KITopen

XPS-characterisation of surface functionalised materials via (Hetero) Diels-Alder chemistry