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Measuring wear by friction force and dynamic force microscopy

Meier, T.; Ünverdi, Ö.; Schmutz, J.E.; Hölscher, H.



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seit 03.08.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 220084322
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 14th Internat.Conf.on Non-Contact Atomic Force Microscopy, Lindau, September 18- 22, 2011
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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