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Measuring wear by friction force and dynamic force microscopy

Meier, T.; Ünverdi, Ö.; Schmutz, J.E.; Hölscher, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 220084322
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 14th Internat.Conf.on Non-Contact Atomic Force Microscopy, Lindau, September 18- 22, 2011
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