Measuring wear by friction force and dynamic force microscopy
Meier, T.; Ünverdi, Ö.; Schmutz, J. E.; Hölscher, H.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Poster |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 220084322 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | 14th Internat.Conf.on Non-Contact Atomic Force Microscopy, Lindau, September 18- 22, 2011 |